Компонент - ненадежность
Cтраница 2
 |
Коэффициенты режима работы элементов полупроводниковых ИМС. [16] |
Исходными данными для расчета надежности полупроводниковых ИМС физическим методом являются принципиальная электрическая схема, разработанная топология, маршрут технологического процесса и значения интенсивностей отказов компонентов ненадежности. [17]
Первый подход основан на предположении идентичности основных технологических операций базового процесса изготовления тестовой ИМС и прогнозируемой БИС, а их надежность отличается только числом компонентов ненадежности. При этом компонент ненадежности является общим для тестовой ИМС и БИС и имеет постоянную надежность, определяемую качеством базового технологического процесса. [18]
Аналогично можно расчленить на компоненты ненадежности любое изделие. Компоненты ненадежности, являясь продуктами определенного частичного технологического цикла, представляют своего рода технологические модули, переносимые из разработки в разработку и сравнительно медленно эволюционирующие в ходе технического развития. Изучение и моделирование кинетики процессов, происходящих в выделенных компонентах ненадежности, позволяет установить причинную связь между геометрией компонентов-свойствами материалов, эксплуатационными факторами и временем наработки изделия до отказа. [19]
 |
Плотность распределения дефектов ИС в зависимости от их размера А. [20] |
На основе проведенных рассуждений можно утверждать, что надежность ИС различной функциональной сложности, изготовляемых по одной и той же базовой технологии, определяется лишь различным числом КН. А компонент ненадежности - общий для любой ИС - имеет постоянную надежность, определяемую качеством базового технологического процесса и его технологического оборудования. С учетом этих предположений будем считать, что по результатам испытаний партии однотипных ИС определена интенсивность отказов ИС. [21]
Первый подход основан на предположении идентичности основных технологических операций базового процесса изготовления тестовой ИМС и прогнозируемой БИС, а их надежность отличается только числом компонентов ненадежности. При этом компонент ненадежности является общим для тестовой ИМС и БИС и имеет постоянную надежность, определяемую качеством базового технологического процесса. [22]
Компонентами ненадежности будем считать составные части аппаратуры на основе ИС, выделенные с таким расчетом, чтобы обладать определенной технологической независимостью и допускать изготовление с помощью вполне определенной, достаточно замкнутой последовательности технологических операций: 1) термокомпрессионные внутрисхемные контакты; 2) сварные внутрисхемные контакты; 3) сварные или паяные внешние контакты с печатной платой; золотые или алюминиевые проводники, используемые при внутрисхемных соединениях с выводами корпуса; 4) внутрисхемный монтаж ( металлизация); 5) состояние поверхности ( качество обработки, защита) подложки ИС; 6) герметичность корпуса ИС; 7) целостность и однородность подложки; 8) дефекты в твердом теле. Первые шесть компонентов ненадежности обусловливают появление катастрофических отказов аппаратуры. Отказы, связанные с каждым из этих шести компонентов, можно считать практически не зависящими друг от друга. [23]
Для современных цифровых ИС доминирующими являются внезапные отказы. При этом руководствуются правилом, что компонентами ненадежности могут быть составные части ИС, которые обладают определенной конструктивной или технологической независимостью, допускают изготовление с помощью сравнительно замкнутой последовательности технологических операций, либо имеют количественные показатели, удобные для контроля и анализа отказов. [24]
Расчет надежности гибридных ИМС и МСБ на этапе их разработки в большинстве случаев основан на определении интенсивности отказов и последующем вычислении вероятности безотказной работы Р ( t) за требуемый промежуток времени. Для расчета надежности гибридных ИМС в настоящее время применяют в основном статистические методы определения Я ( /), которые базируются на предположении, что гибридная ИМС представляет собой функциональный узел из разнородных дискретных элементов, а отказ любого из них приводит к отказу ИМС. Следовательно, интенсивность отказов ИМС определяется простым суммированием интенсивностей отказов компонентов ненадежности. [25]
Анализ отказов ИМС в аппаратуре показывает, что основными источниками отказов являются невыявленные нарушения технологического процесса изготовления ИМС. Доминирующими являются внезапные отказы. Для оценки Я, ( t) требуются систематизация отказов и выделение в них компонентов ненадежности. [26]
Физический или причинный подход к прогнозированию надежности МЭ и ИМ базируется на анализе физических и физико-химических процессов. Однако процессы износа и разрушения в реальных изделиях, как правило, локализованы, конкретны и зависят от конкретных причин. В соответствии с этим наиболее приемлемой моделью надежности в настоящее время является модель, основанная на принципе суммирования компонентов ненадежности. [27]
Страницы: 1 2