Кривая - интенсивность
Cтраница 2
По кривым интенсивности полосы поглощения 720 см-1 для парафинов ( см. рис. 33) можно выделить следующие области фазовых превращений: расплав, область кристаллизации, высокотемпературная твердая фаза, область полиморфного перехода и низкотемпературная твердая фаза. Появление твердой фазы фиксируется на рефрактометрических кривых по разрыву кривой, а область полиморфного перехода - по резкому изменению показателей преломления, характеризующих анизотропное твердое вещество. ИК-спектры углеводородов церезина 80, не реагирующих с карбамидом, отличаются от ИК-спектров парафинов. Так, в ИК-спектрах поглощения этих углеводородов после начала кристаллизации наблюдается монотонное возрастание полосы интенсивности 720см - 1, причем конец процесса кристаллизации в отличие от парафинов не фиксируется. Полоса 730 см-1, а следовательно, и ромбическая структура, появляются сразу после начала кристаллизации, что свидетельствует об отсутствии высокотемпературной твердой фазы. [16]
 |
Зависимость остаточного напряжения при сдвиге ( 3, интенсивности. [17] |
По кривым интенсивности полосы поглощения 720 см - для парафинов ( см. рис. 33) можно выделить следующие области фазовых превращений: расплав, область кристаллизации, высокотемпературная твердая фаза, область полиморфного перехода и низкотемпературная твердая фаза. Появление твердой фазы фиксируется на рефрактометрических кривых по разрыву кривой, а область полиморфного перехода - по резкому изменению показателей преломления, характеризующих анизотропное твердое вещество. ИК-спектры углеводородов церезина 80, не реагирующих с карбамидом, отличаются от ИК-спектров парафинов. Так, в ИК-спектрах поглощения этих углеводородов после начала кристаллизации наблюдается монотонное возрастание полосы интенсивности 720см - 1, причем конец процесса кристаллизации в отличие от парафинов не фиксируется. Полоса 730 см-1, а следовательно, и ромбическая структура, появляются сразу после начала кристаллизации, что свидетельствует об отсутствии высокотемпературной твердой фазы. [18]
ЙГ, то кривая интенсивности нейтронов должна быть такой, как указано на фиг. [19]
 |
Значения г, и / V, для жидкого Ag из ФРР. [20] |
Полученная Хендусом [22] кривая интенсивности жидкого Аи имеет максимумы, с которыми можно сопоставить линии рентгенограммы порошка Аи, что свидетельствует о сходстве строения этого вещества в жидком и кристаллическом состояниях. [21]
 |
Схема рентгеновского спектрографа.| Кривая отражения рентгеновских лучей от кристалла NaCl. [22] |
Таким образом, кривая интенсивности рентгеновских лучей в зависимости от угла поворота кристалла будет иметь ряд максимумов, которые должны повториться в различных порядках отражения. На рис. 78 приведен пример такой кривой, полученной при отражении от кристалла NaCl излучения рентгеновской трубки с платиновым антикатодом. [23]
 |
Линия фона 0 ( 5, проведенная по методике огибающих кривой / SKCII ( S. [24] |
Полученная таким образом кривая приведенной молекулярной составляющей интенсивности рассеяния содержит всю информацию о структурных параметрах. [25]
Было принято, что кривая интенсивности для целлюлозы, измельченной в сухом виде, соответствует предельно неупорядоченному состоянию целлюлозы. Содержание аморфных областей в этом препарате автоматически имеет максимальное значение. Результаты, полученные данным методом, не противоречат структурным моделям, если принять во внимание размеры микрофибрилл. [26]
 |
Схема для расчета электронограммы ССЦ.| Схема для расчета электронограммы СеН6. [27] |
А, то получается кривая интенсивности, все максимумы которой совпадают с экспериментальными. Таким образом, метод электронографии показывает, что молекула имеет тетраэдрическое строение и расстояния С - С1 и С1 - С1 равны соответственно 1 75 и 1 63 - 1 752 85 А. [28]
В результате измерения записывается кривая интенсивности гамма-излучения, характеризующая изменение толщины цементного камня вокруг обсадной колонны, а также по глубине скважины. [29]
 |
Кривая интенсивности жидкой ртути.| Кривая интенсивности воды. [30] |
Страницы: 1 2 3 4 5