Кривая - пропускание
Cтраница 2
В соответствии с формулой Эйри кривая пропускания интерферометра Фабри - Перо состоит из серии эквидистантных по частоте ( или волновому числу Х - о) пиков. При нормальном падении ( в 0) минимальному ослаблению подвергается излучение с длиной волны n 2nd / m, где m - целое число, называемое порядком интерференции. [17]
Линия поглощения обнаруживается как провал кривой пропускания при сканировании в области длины волны Я-106 мк. Кривая, проведенная пунктиром над провалом ( фиг. При таком расчете автоматически компенсируются потери на отражение, рассеяние и др., которые могут сказываться на результатах абсолютных измерений. Для достижения высокой точности при данном методе необходима надежная выверка нуля прибора. [18]
 |
Линеаризация кривой пропускания по формуле. [19] |
Этот способ линеаризации позволяет выровнять кривую пропускания в области слабых и нормальных линий. [20]
По данным таблицы вычерчивают кривую поглощения, кривую пропускания и объясняют окраску раствора. [21]
 |
Вил кривых, регистрируемых с помощью двухлучевого прибора. [22] |
В рабочий пучок устанавливается исследуемая кювета и регистрируется кривая пропускания. [23]
Для его выпрямлешгя был подобран светофильтр СС-4, кривая пропускания которого более подходила к кривой поглощения раствора платины. [24]
По полученным значениям / / / о строят кривую пропускания образца. [25]
 |
Спектры пропускания стекол марки.| Спектры поглощения стекол, окрашенных коллоидными красителями. [26] |
Стекло при этом приобретает серый оттенок, светопропускание понижается, однако кривая пропускания носит нейтральный характер. [27]
Таким образом, автоматическая регистрация спектра исследуемого образца ( в виде кривой пропускания или оптической плотности) сводится к одновременному перемещению промежуточной щели двойного монохроматора и выравниванию света в каналах образца и канале сравнения с помощью поворота призмы Рсшона. [28]
Заметим также, что проводимость может ст ть достаточно большой и форма кривой пропускания уже не будет совпадать с действительной частью ( ш), в особенности при высокой концентрации электронов. В этом случае для анализа формы линии следует использовать точное выражение для коэффициента пропускания. [29]
Двухлучевые приборы, такие как ИКС - 14, СФ-2М дают непосредственно кривую пропускания, выраженного в процентах. Для этого необходимо установить равенство интенсивностеи обоих лучей - это будет соответствовать 100 / пропускаемости. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5