Кривая - пропускание
Cтраница 4
Если требуется проводить измерения с чрезвычайно узкополосным источником, таким, как газовый лазер, приемник можно калибровать по образцовому источнику при помощи интерференционного фильтра с известными характеристиками, должным образом учитывая большой вклад в прошедший поток, даваемый спадающими хвостами кривой пропускания. В любом случае результаты калибровки с образцовым источником можно проверить путем сравнения с термостолбиком, калибровка которого проверяется описанным выше методом. [46]
Основное преимущество двухлучевого спектрометра по сравнению с однолучевым состоит в том, что он дает непосредственно кривую пропускания исследуемого вещества, в то время как од-нолучевой прибор требует снятия двух спектрограмм - излучение источника с образцом и без образца, по которым с помощью очень трудоемкой обработки можно получить кривую пропускания или поглощения вещества. Однако снятие двух спектрограмм последовательно во времени может внести дополнительную погрешность, обусловленную, например, изменением режима горения источника света, температуры, влажности воздуха и других условий. Двухлучевой спектрометр позволяет получать спектр веществ в виде растворов, если в луч сравнения поместить чистый растворитель. [47]
Цветные светофильтры применяются в фотографии для изменения спектрального состава света. Кривая пропускания светофильтра в этих случаях позволяет определить, каков будет спектральный состав света после прохождения через светофильтр. Спектральный состав света, прошедшего через светофильтр, определяется умножением коэффициентов пропускания на числа, характеризующие энергию падающего излучения. [48]
 |
Схема рефрактометра Пульфриха. [49] |
Для исследования спектра пропускания сильно поглощающих излучение сред требуется использование тонких образцов, толщина которых составляет 2 - 3 мкм. Минимум кривой пропускания при умеренном поглощении близок по положению к максимальному значению х2 для длины волны Ко. Однако получить спектры пропускания затруднительно из-за сложности изготовления образцов. Поэтому переходят к исследованию спектра отражения вещества. В случае внешнего отражения рис. 2.4.7 в - 1), когда показатель преломления внешней среды п мал ( i х 1), кривая отражения R имеет минимум для длины волны Ко, где п HZ-Максимум кривой смещен по отношению к контуру поглощения в сторону больших длин волн. [50]
 |
Спектральные характеристики пропускания Т пленок As2Se3 ( - 0 и. [51] |
На кривой пропускания закристаллизованного образца при переходе из длинноволновой части спектра в коротковолновую наблюдается первоначально возрастание пропускания с последующим его понижением. Такое поведение кривой пропускания объясняется [786] поглощением свободных носителей, которые образуются в процессе кристаллизации. [52]
 |
Спектральные характеристики пропускания Т пленок As2Se3 ( - 0 и. [53] |
На рис. 146 приведены типичные изменения спектра пропускания пленки халькогенидного стекла, подвергнутой облучению и отжигу. Облучение смещает кривую пропускания Т ( К) свежей пленки в длинноволновую область ( кривая 2), одновременно изменяются положения максимумов интерференции. Отжиг пленки вблизи Tg вызывает обратный сдвиг ( 3), не достигающий первоначального положения. [54]
 |
Амплитудная оптическая бистабильность. а - графической решение уравнений ( и. б - зависимость интенсивности вета на выходе оптического резонатора от интенсивности линейно поляризованной накачки. [55] |
BD и FK кривой пропускания ( С и G), являются устойчивыми относительно плосковолновых возмущений той же поляризации. Рабочие точки, лежащие между D и F на кривой про - пускания ( напр. [56]
 |
Светофильтры для выделения линий ртутного спектра. [57] |
В последние годы широкое применение нашли интерференционные светофильтры, которые представляют собой многослойную систему чередующихся тонких непоглощающих диэлектрических слоев с высоким и низким показателями преломления. На рис. 5.14 представлена кривая пропускания интерференционного светофильтра. [58]
При наличии сигнала на входе усилителя электродвигатель вращается и перемещает фотометрический клин до исчезновения составляющей сигнала с частотой 8 8 гц. Таким образом производится запись кривой пропускания. [59]
В двухлучевых приборах световой поток от источника излучения делится на две равные части и распространяется по двум каналам, в один из которых ( канал сравнения) ставится кювета с чистым растворителем, а в другой - кювета с исследуемым раствором. Это позволяет сразу получить кривую пропускания или оптической плотности образца. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5