Интерференционная кривая

Cтраница 1

Интерференционные кривые, соответствующие разным радиальным узловым прямым n - ной сетки обратной решетки. [1]

Интерференционные кривые, соответствующие параллельным узловым прямым сетки, почти не меняют своего вида. [2]

Интерференционные кривые снимаются при этом в дифрактомерах - рентгеновских установках, в которых регистрация лучей осуществляется с помощью ионизационных и сцинтиляционных счетчиков. Эти кривые имеют вид, аналогичный фотометрическим кривым. Кривая ионизационной установки изображает угловую зависимость ионизационного или сцинтиляционного эффекта, пропорционального интенсивности рентгеновского излучения. [3]

Итак, интерференционная кривая 1 ( х) необычайно усложнила вопрос о характере прохождения микрообъекта через экран с двумя щелями. Если микрообъект проходит через одну щель, то либо не должно быть интерференции, либо надо признать за микрообъектом таинственную способность ощущать соседнюю щель. [4]

Иллюстрация симметрии рентгенограммы вращения при помощи обратной решетки и сферы отражения. [5]

Простейшим типом интерференционных кривых являются сами слоевые линии. Индексы пятен, расположенных на них, подчиняются следующему условию. [6]

Найдем вид интерференционной кривой, соединяющей пятна, возникшие от узлов ряда ОР. Поскольку ММ перпендикулярно OP, a высота равнобедренного треугольника GA перпендикулярна ОР, углы РОР ф и ЛООт / 2 равны между собой. Равномерному повороту кристалла соответствует равномерное же движение точки D по поверхности сферы; равномерное смещение пленки вдоль оси Z сопровождается равномерным перемещением точки падения луча на пленку вдоль оси X. [7]

Зависимость отраженного сигнала от толщины диэлектрического слоя, находящегося на металле, для различных расстояний ( мм между излучающей антенной и металлом. [8]

На рис. 24 приведены интерференционные кривые, снятые для материала, находящегося на Металлической подложке. Из анализа этих кривых следует, что, подбирая определенную величину зазора, можно перекрыть весь диапазон изменения толщин от 2 до 16 мм. [9]

Рентгенограмма вращения вокруг оси Z кристалла соли Жерара транс - Pt ( NH3 2C14. ЯСи.| Рентгенограмма вращения вокруг оси X кристалла соли Жерара транс - Pi ( NH3 2C14. XCu. [10]

На рис. 210 показаны интерференционные кривые, проходящие через пятна рентгенограммы вращения вокруг оси Z -, около каждой кривой указано значение A L Пятна нулевой слоевой линии, отмеченные крестиками, являются р-пятнами. Это доказывается их расположением и интенсивностями. [11]

Зависимость отраженного сигнала от толщины диэлектрического слоя, находящегося на металле, для различных расстояний ( мм между излучающей антенной и металлом.| Схема контроля толщины металлического листа. [12]

На рис. 28 приведены интерференционные кривые, снятые для материала, находящегося на металлической подложке. [13]

Распределение напряженности поля в объеме двухслойной вставки в различных режимах ( Еу ( х, г const. [14]

R ( ii, тем меньше искажается обычная интерференционная кривая резонансов по основной волне в канале С и тем добротнее резонансы полного отражения по этой волне в канале В. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5