Интерференционная кривая
Cтраница 3
 |
Приспособление для индицирования нулевой слоевой линии рентгенограммы качания - круг со значениями Я, и смотровым окном. [31] |
Тогда сопоставление пятен и узлов обратной решетки можно проводить непосредственно на пленке, не пользуясь интерференционными кривыми. [32]
PZ-Выходит, что, хоть нам и удалось проследить, через какое отверстие проходят электроны, никакой прежней интерференционной кривой Р ч не вышло, получилась новая кривая Р ъ - кривая без интерференции. [33]
Однако путем количественной оценки влияния фона нелинейного рассеивания, вызываемого окисью алюминия, нам удалось получить интерференционную кривую линии ( 311) платины достаточно точно. [34]
Чтобы проиндицировать рентгенограмму, достаточно сопоставить расстояния от оси вращения узлов, находящихся в заштрихованной области, со значениями г Д, полученными из рентгенограммы при помощи интерференционных кривых. Один из двух заштрихованных полумесяцев ( на чертеже верхний) соответствует левой половине рентгенограммы, другой - правой. [35]
 |
Расположение пятен по интерференционным кривым. а - в случае решетки, не центрированной по. [36] |
Отметим еще одно интересное для нас обстоятельство. Если интерференционные кривые на рентгенограммах, снятых при вращении кристалла вокруг всех трех осей, выражены достаточно четко, то из них можно получить сведения о типе решетки, даже не производя индицирования. [37]
Возникающая разность хода проявляется в искривлении интерференционных полос. Форма интерференционной кривой определяется градиентом показателя преломления. Простота оптической настройки, отсутствие дифракционных явлений и высокая чувствительность делают поляризационный интерферометр одним из самых удобных современных приборов для определения градиента показателя преломления. [38]
 |
Получение рентгенограммы Вейсенберга моноклинного кристалла, вращаемого вокруг оси Y, при равнонаклонной съемке. [39] |
Благодаря единообразию формы интерференционных кривых задача существенно облегчается. [40]
 |
S. Принципиальная схема образования сигнала в амплитудно-фазовых прибо pax, работающих по схеме на отражение.| Блок-схемы амплитудно-фазовых приборов, работающих по схеме на отражение. [41] |
Отличие электромагнитных свойств дефектной области от бездефектной является причиной изменения амплитуды и фазы отраженного сигнала. Это приводит к изменению вида интерференционной кривой. [42]
Отличие электромагнитных свойств дефектной области от бездефектной является причиной изменения амплитуды и фазы отраженного сигнала. Это приводит к изменению вида интерференционной кривой. [43]
Задача состоит в том, чтобы от интерференционной кривой, полученной с помощью гениометра или фотометрированием, отделить интерференционную линию, соответствующую диффузному фону. В качестве кривой рассеяния аморфной целлюлозы была взята интерференционная кривая размолотой целлюлозы, которая имеет низкую степень упорядоченности. Для синтетических волокон снимают, если это возможно, интерференционную кривую расплава. [44]
Той же причиной обусловлен и другой, пожалуй, еще более существенный недостаток схемы перпендикулярного пучка - расположение пятен, отвечающих радиальным узловым рядам, не на прямых, а на зигзагообразных кривых. Как следствие этого, с изменением nd меняют очертания и интерференционные кривые, отвечающие параллельным узловым рядам. Эта зависимость формы интерференционных кривых от номера слоевой линии и периода решетки кристалла вдоль оси вращения значительно затрудняет индицирование. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5