Анализ - пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если Вас уже третий рабочий день подряд клонит в сон, значит сегодня среда. Законы Мерфи (еще...)

Анализ - пленка

Cтраница 1


Анализы пленок показывают, что они проявляют магнитные свойства.  [1]

Для анализа пленки нужно подействовать на нее кислотой таким образом, чтобы кислота растворила только пленку, но не основную массу сплава.  [2]

В случае анализа пленки, нанесенной на нерастворимую основу, плен ку растворяют в минимальном объеме раствора КОН при нагревании и в зависимости от предполагаемого количества мышьяка берут весь полученный раствор или его часть и определяют содержание мышьяка, как описано выше.  [3]

В случае анализа пленки, нанесенной на нерастворимую основу, пленку растворяют в минимальном объеме раствора КОН при нагревании и в зависимости от предполагаемого количества мышьяка берут весь полученный раствор или его часть и определяют содержание мышьяка, как описано выше.  [4]

В случае анализа пленок 1 мл НС1 ополаскивают подложку, которую вынимают из стаканчика щипчиками из тефлона по окончании растворения с нее пленки германия. Вес растворенной пленки вычисляют по разности весов пленки с подложкой до и после растворения. К сухому остатку прибавляют 4 капли 1 % - iHoro раствора NaCl ( 0 1 мл), который вводят для снижения фона и стабилизации разряда. Остаток снова высушивают, затем прибавляют 1 - 2 капли спирта и тефлоновой лопаточкой переносят из стаканчика на кусочек кальки, а с нее - в кратер угольного электрода. Спирт необходимо прибавлять, иначе осадок трудно снимается со дна и стенок стаканчика.  [5]

6 Положение трубы и рентгеновской пленки в позиции контроля.| Схема устройства для анализа рентгеновских пленок. [6]

Устройство для анализа пленок, а также соответствующий терминал для обслуживания связаны с системой регистрации производственных данных. Сначала контролер вводит производственный номер трубы, указанный на пленке, и позицию просвечивания. От системы регистрации производственных данных сразу же поступает сообщение к устройству анализа путем вывода того специального участка, который следует подвергнуть особо тщательному контролю. Непосредственно под этим участком загорается соответствующая лампочка. Работа контролера благодаря этому значительно облегчается и улучшается, причем выборочный контроль на остальной части пленки не исключается.  [7]

8 Диаграмма стабильных превращений гипса и ангидритов в растворах H2S04. [8]

Переходим теперь к анализу пленок на боратах.  [9]

В таблице приведены результаты анализов пленок, высушенных при температурах 110, 150 и 170 С.  [10]

В работе [117] исследована возможность анализа металлсодержащих пленок и покрытий бумаг из синтетических волокон не только в насыщенных слоях, но и в тонком слое. Эталоны и образцы имел и толщины, удовлетворяющие условию 1 % - ного приближения к тонкому слою [ см. гл. Установлено, что различие в природе бумаги практически не влияет на интенсивность рассеянного излучения.  [11]

Для сокращения работы по получению результатов анализа пленок была составлена программа для ЭВМ М-222, позволившая не только рассчитать состав и поверхностную плотность пленок по экспериментально зарегистрированным / т, но и указать по обусловленному нами вероятному разбросу этих интенсивностей экстремальные значения состава пленок.  [12]

13 Влияние облучения на УФ-спектр полистирола. необлученного ( /, облученного в течение 60 мин ( 2, 120 мин ( 3 и 180 мин ( 4. [13]

Исследовано [936] также применение УФ - и ИК-спектроскопии для анализа пленок полистирола после вакуумного фотолиза при 253 7 нм в описанном выше приборе. В результате облучения возрастает поглощение в области 230 - 350 нм. Однако, как видно из рис. 94, наибольшее относительное увеличение поглощения наблюдается при 240 и 290 - 300 нм. Поглощение в области 240 нм связано с наличием в молекуле двойной углерод-углеродной связи, сопряженной с бензольным кольцом. Для стирола, например, характерно поглощение при 244 нм.  [14]

При использовании рентгеновской дифрактометрии ( / Са-излуче-ние Со) для анализа пленок, образованных присадками на тру-щихся поверхностях в зонах пятен износа, применяли цилиндриче-скую монокристаллическую камеру ( радиус 3 см), а калибровку пленок осуществляли с использованием линий а-1 е ПО, 200, 211 и 220 в качестве внешнего стандарта.  [15]



Страницы:      1    2    3