Измерение - толщина - покрытие
Cтраница 3
Для измерения толщины покрытий магнитным методом Получили распространение в основном два типа приборов: индукционные и отрывные. [31]
Для измерения толщины покрытий методом вихревых токов применяют те же приборы, что и для измерения толщины немагнитных оболочек ( фиг. [32]
Кроме измерения толщины покрытий, он может быть пспользонан - для определения процентного состава двухкомпонентных покрытий. [33]
Для измерения толщины неэлектропроводящих покрытий, нанесенных на немагнитные металлы, разработан и серийно выпускается электроиндуктивный толщиномер типа ТПН-1М. [34]
 |
Влияние времени погружения титановых сплавов алюминия при 700 С на рост TiAl3. [35] |
Результаты измерений толщины покрытия близки. Изменение толщины покрытия при 700 С от времени выдержки в расплаве получено немонотонным: максимум 50 - 80 мкм после 15 - 20 с. Повышение содержания алюминия в сплаве титана улучшает смачиваемость расплавом и увеличивает толщину покрытия. [36]
Точность измерения толщины покрытия зависит от точности измере-к твий ширины среза ( хорды) и диаметра круга или радиуса кривизны испытуемого участка поверхности, покрытия. [37]
Погрешность измерения толщины покрытия не превышает, при цинке на стали 2 мк; при олове на стали 1 мк. [38]
 |
Внешний вид толщиномера МТ-ДАЗ.| Блок-схема автоматизированного прибора отрывного типа для измерения толщины гальванических покрытий. [39] |
Точность измерения толщин покрытия при помощи этого прибора составляет 5 мк. [40]
Схема измерения толщины покрытий магнитным толщемером: / - сердечник; 2-обмотка возбуждения; 3 - измерительные СбЫСТКН; 4 - основное слой; 5 - слон цокрытия. [41]
Продолжительность измерения толщины покрытия при помощи микроскопа МИС-11 или ПСС-2 занимает около 2 мин при пятикратном повторении измерений. [42]
Время измерения толщины покрытия определяется временем взвешивания деталей, а также нахождением размеров их поверхностей. [43]
Точность измерения толщины покрытия зависит от точности измерения ширины среза ( хорды) и диаметра круга или радиуса кривизны контролируемой поверхности покрытия. [44]
Время измерения толщины покрытия определяется временем образования надреза и замера на микроскопе. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5