Cтраница 3
Принцип оптического клина. [31] |
Оптимальное время контактного экспонирования определяется с помощью миры, измерения ширины линий и клина оптических плотностей. [32]
Эти времена жизни не могут быть получены просто из измерений ширины линии. [33]
Обычные спектральные методы во многих случаях непригодны или неудобны для измерения ширины линии излучения лазера. Ширину линии излучения тех лазеров, которые испускают свет в широкой полосе частот, например лазеров на стекле, активированном неодимом, на рубине и на арсениде галлия, оказалось возможным измерить при помощи эталона Фабри - Перо с достаточно высоким спектральным разрешением. Практическая граница между линиями, ширину которых можно измерить прямыми ( интерферометрическими) методами, и столь узкими линиями, ширину которых прямыми методами измерить невозможно, порядка 1 Мгц. Для линий с шириной, меньшей 1 Мгц, применяются методы гетеродинирования. Для измерения же ширины линий до килогерц в настоящее время часто применяются другие косвенные методы, основанные на измерении статистических характеристик лазерного шума. [34]
Следует отметить, что расчеты, сделанные только на основании измерений ширины линий в спектрах ЯМР высокого разрешения полимеров не всегда надежны. Как показало последующее изучение растворов полистирола 4М, в наблюдаемую ширину линии большой вклад вносит спин-спиновое взаимодействие орто - и мета-протонов. Однако вывод о малом влиянии макроскопической вязкости на движение молекулярных групп в растворе полимера, по-видимому, обоснован. [35]
Изменения ширины линий в зависимости от времени экспонирования фоторезиста SCR-5. [36] |
Для определения времени экспонирования в микроэлектронике используется мира, метод измерения ширины линий и клин оптических плотностей. [37]
Рентгенографические методы определения средней величины -, кристаллов основаны на измерении ширины диффракционных линий. [38]
Изменение времен релаксации в зависимости от времени корреляции теплового движения. [39] |
Соотношение между Т2 и шириной линии позволяет определить это время на основании измерения ширины линии. Изучение ширины линий в зависимости от температуры может выявить многое о начале и степени молекулярного движения в полимере. [40]
Однако недавно опубликованные данные указывают на необходимость более1 осторожного применения метода, основанного на измерении ширины линий в спектрах ЭПР. Наблюдалось значительное расхождение результатов определения этим методом констант диссоциации ионной пары, образованной катионами калия с двухзарядным анионом циклооктатет-раена, с результатами, полученными при использовании других методов. [41]
График для перехода от величин SA к ширинам линий. [42] |
Характеристика ширины ли-получаемая подобным методом, Однако мы считаем необходимым подчеркнуть, что проведенная нами работа по измерению ширины линий комбинационного рассеяния представляет собой лишь первый шаг в этом направлении. Исследования ширины и формы линий комбинационного рассеяния разнообразными, в первую очередь прямыми, методами должны быть продолжены в дальнейшем. [43]
При исследовании процессов атомных столкновений ( см. работы [248, 249]) для определения частоты v и ее зависимости от скорости полезным методом является измерение ширины линий. Измерения проводились в послесвечении повторяющегося импульсного разряда в парах цезия в момент времени, когда распределение электронов по скоростям было близко к максвелловскому. Ширина линии была получена в различные моменты времени при разных значениях электронной температуры. [44]
Для случая пятиспиновой системы типа А2В2Х, с которой, напри - мер, приходится иметь дело в замещенных циклогексанах С6Н Х7 вполне надежными являются измерения ширины линии на высоте ft, равной 1 / 5 высоты всего сигнала. [45]