Точное измерение - толщина
Cтраница 1
Точные измерения толщины очень важны для определения любых уплотнений пленки, которые происходят в результате нагрева, для определения стабильности пленок стекла, когда они подвергаются воздействию различных сред, и для изучения поведения пленок при химическом воздействии. [1]
 |
Пример отсчета по микрометру. [2] |
Для точного измерения толщины обычно применяются винтовые микрометры с фрикционом, обеспечивающие необходимый нажим на испытываемый образец. [3]
При необходимости точное измерение толщины кюветы может быть выполнено достаточно просто для значений / 100 мк. В этих случаях для измерения / используют самые разнообразные механические, оптические и другие способы, однако эта проблема до сих пор продолжает оставаться весьма острой. [4]
Для количественной оценки спектральных интенсивностей необходимо точное измерение толщины кристалла. Простым, хотя и не очень точным, методом является измерение площади поверхности кристалла, спектр которого измерен, с последующим растворением этого кристалла в известном объеме подходящего растворителя. Затем в спектре раствора измеряется оптическая плотность интенсивных полос и производится оценка массы, а отсюда и толщины кристалла. Это позволяет в лучшем случае дать только грубую оценку; метод неприменим для очень тонких образцов. Толщина кристалла может быть измерена также под микроскопом при наблюдении запаздывания, вызванного кристаллом, и сравнения его с разностью показателей преломления при данной длине волны. Гораздо более высокая точность может быть получена при усложнении эксперимента путем использования интерферометрии. [5]
Интерференционные полосы равного хроматического порядка целесообразно использовать для точных измерений толщин плоскопараллельных пластинок или воздушных промежутков. [6]
Наблюдающиеся колебания в числовом значении п, вероятно, связаны с недостаточно точным измерением толщины слоя смазки. [7]
 |
Калибровочная прямая для определения состава сополимеров акрило-нитрнла с аллилсульфонатом. [8] |
При анализе твердых образцов обычно пользуются такими методами, которые не требуют точных измерений толщины, а основаны на сравнении. В этом случае рассматривают отношение оптической плотности D выбранной аналитической полосы к оптической плотности D полосы сравнения, соответ-ствующей компоненту, концентрация которого известна и не меняется в условиях эксперимента. [9]
Для количественной съемки, вообще говоря, нужны внутренние эталоны, но если разработать метод для точного измерения толщины слоя вещества, то такой эталон уже не является необходимым. [10]
Поскольку зона взаимодействия в системах псевдопервой группы ( А1 - В, Mg-В и др.) составляет обычно 1 мкм и менее, точные измерения толщины этой зоны сопряжены с большими трудностями, поэтому имеющиеся в литературе данные о кинетике взаимодействия в этих системах весьма противоречивы и ненадежны. Наиболее подробные исследования кинетики реакции взаимодействия были проведены на титановых композициях, армированных волокнами бора, карбида кремния, двуокиси алюминия. [12]
Но применение метода измерения пропускания в мягкой рентгеновской области связано с рядом трудностей: сложностью приготовления тонких слоев исследуемых материалов равномерной толщины, отличием свойств тонких пленок от свойств массивного материала, сложностью точного измерения толщины пленок. Все это значительно осложняет точное определение оптических констант методом пропускания при длинах волн, больших единиц нанометров. Отметим также, что метод измерения пропускания вообще неприемлем для монокристаллов и соединений, из которых не могут быть приготовлены тонкие пленки. [13]
Измерения средней толщины пленки осуществляются непосредственно и никаких трудностей не представляют. Точное измерение толщины пленки имеет большое значение, поскольку некоторые свойства, такие как прочность при растяжении, предельное растяжение при разрыве, ударная прочность и стойкость к распространению трещин сильно зависят от толщины образца. [14]
В конце прошлого века появилась книга о мыльных пленках [3] х, не потерявшая своей познавательной ценности до наших дней. Однако большинство точных измерений толщин пленок и теоретический анализ сил в утончающихся и равновесных пленках были сделаны в основном в течение последних 20 лет. [15]
Страницы: 1 2