Рентгенографическое измерение

Cтраница 2

Величины, входящие в это уравнение, определяются с помощью спектральных и рентгенографических измерений. [16]

Число Авогадро N определено в работах [1141-1143, 700, 701] на основании результатов наиболее точных рентгенографических измерений параметров кристаллических решеток с учетом результатов измерений также и других физических величин. [17]

Зависимость параметра решетки вюстита, расщепления парамагнитного пика и количества магнитных продуктов от температуры термообработки вюстита. [18]

Исследовано [116] влияние температуры закалки и термообработки на структуру вюстита с помощью мессбауэровских, магнитных и рентгенографических измерений. [19]

Весьма перспективным может оказаться метод определения характера дефектов нестехиометрии, основанный на рентгенографическом измерении статических среднеквадратичных искажений в отдельных подрешетках феррита. Использование этого метода позволяет показать, что основной тип дефектов в ферритах MexFe3 - xO4 v при у0 - катионные вакансии, которые для магнетита, ферритов цинка и лития локализуются в октаэдрических узлах решетки. Измерения авторов в работах [151, 152] показали также, что ферриты 7пРе2О4 т и Li0 s Fe2 5 O4 - v при у0 - фазы внедрения, характеризующиеся лрисутствием в междоузлиях решетки ионов Zn2 и Fe2 соответственно. [20]

В основе большинства методов экспериментального анализа напряжений ( механическая и электрическая тензометрия, рентгенографическое измерение напряжений, методы лаков, делительных сеток и др.) лежит прямое измерение деформаций с последующим определением напряжений подсчетом. [21]

На рис. 2.18 сопоставлены величины поверхности, определенные по адсорбции аргона и вычисленные из рентгенографических измерений. Для высокодисперсных образцов значения, полученные обоими методами, очень близки. В случае образцов, обладающих сравнительно малоразвитой поверхностью, между этими значениями наблюдаются различия. Наиболее резко они выражены для образца 4, полученного гидротермальной обработкой байерита, для которого уже после нагревания гидроокиси при 200 вычисленная величина поверхности в 3 раза больше измеренной. При дальнейшем повышении температуры прокаливания дисперсность частиц - А12Оз становится равной дисперсности образцов, обладающих развитой поверхностью. Эти результаты говорят о том, что сравнительно низкие значения величины поверхности образцов 3 и 4 обусловлены не низкой диспер - сностью первичных частиц, а большей плотностью их упаковки. [22]

К счастью, трудностей экстраполяции можно избежать, сопоставляя результаты измерений теплового расширения и рентгенографических измерений параметра решетки при одной и той же температуре. При отсутствии релаксации вокруг вакансий каждая образовавшаяся вакансия увеличивает кристалл на один атомный объем, но параметр решетки при этом остается без изменения. [23]

Последняя цифра хорошо согласуется со значением 13 31 г / слР, вычисленным по данным рентгенографических измерений. [24]

Впоследствии наличие связи более прочной, чем ординарная, между атомами 2 и 3 было подтверждено рентгенографическим измерением длин связей в дивиниле. [25]

Ниже приводятся структуры этих изомеров по Мейеру и Марку, причем величина межатомных расстояний вычислена по результатам рентгенографических измерений. [26]

Зависимость константы решетки от состава. [27]

Если известна кривая зависимости константы решетки от состава, то можно легко определить состав сплава, используя результаты рентгенографического измерения. Этим методом часто пользуются в металлографии для определения границ растворимости твердых растворов. [28]

В йодной решетке этой а-формы для ионов серебра существуют возможные положенья с координацией 2, 3 и 4 порядка, и рентгенографические измерения показывают, что они свободно движутся между всеми этими положениями. Высокая электропроводность и самодиффузия a - Agl подтверждают, что ионы серебра не связаны с каким-нибудь определенным положением в жесткой йодной решетке, но двигаются между легко деформируемыми ионами иода. Поэтому при нагревании Agl имеет место следующая последовательность явлений. В точке перехода, при 145 8 С, ионы иода внезапно перераспределяются с образованием новой устойчивой решетки, а решетка ионов серебра плавится, причем от 145 8 С и до точки плавления ( при этой температуре йодная решетка также разрушается) серебро существует в жидкой форме в твердой йодной решетке. [29]

О наличии дырок в расплавленных электролитах можно судить [7] по объемному расширению, наблюдаемому при плавлении, а также по результатам структурных рентгенографических измерений, согласно которым межионное расстояние в расплаве практически идентично соответствующему расстоянию в твердом веществе. Более детальное рассмотрение структуры расплавов возможно при наличии данных о числе, размере и распределении этих дырок. Бокрис и Ричарде [7] показали, что расчеты, основанные на дырочной теории расплавленных электролитов, дают ценную информацию об этих жидкостях. [30]

Страницы: 1 2 3 4