Алгоритм - измерение
Cтраница 2
Таким образом, алгоритм измерения глубины трещин с отстройкой от электрофизических свойств материала, в котором находится дефект, сводится к следующему. Измеряется разность потенциалов на бездефектном месте UQ и обусловленная дефектом Ug при установке измерительных электродов по берегам дефекта. Затем вычисляется относительная разность потенциалов ( Ug - UQ) I UQ при заданных размерах 2а и 2 А, которые легко учитываются в электронном блоке при распределении коэффициента усиления. Измерения могут производиться без предварительной установки прибора на ноль и градуировки с помощью стандартных образцов. [16]
 |
Схема расположения электродов при изменении глубины дефекта. [17] |
Таким образом, алгоритм измерения глубины трещин с отстройкой от электрофизических свойств материала, в котором находится дефект, сводится к следующему. Измеряется разность потенциалов на бездефектном месте С / о и обусловленная дефектом Ug при установке измерительных электродов по берегам дефекта. Затем вычисляется относительная разность потенциалов ( Ug - С / о) / С / о при заданных размерах 2а и 2А, которые легко учитываются в электронном блоке при распределении коэффициента усиления. Измерения могут производиться без предварительной установки прибора на ноль и градуировки с помощью стандартных образцов. [18]
Сочетание метода и алгоритма измерений составляет методику измерений. [19]
Пристального внимания требует разработка алгоритмов измерения. Не все традиционные алгоритмы подходят для использования в микропроцессорном измерителе. Иногда необходимо соответствующим образом модифицировать алгоритм или создавать принципиально новый с учетом применения микропроцессорной системы. [20]
 |
Общая структурная схема цифрового измерителя вероятностных характеристик. [21] |
Статистическая погрешность зависит от алгоритма измерений: при одном и том же объеме статистики для различных алгоритмов измерений характерны неодинаковые погрешности. [22]
Функциональная схема преобразователя, реализующего алгоритм измерения (2.21), приведена на рис. 2.7, а. С ростом числа итераций х - х i - х, а выражение в фигурных скобках в (2.21) стремится к нулю. В установившемся режиме значение выходной величины преобразователя равно среднеквадратическому значению (2.17), а погрешности МДУ, дифференциального интегратора, схемы выборки-хранения и узла Кх исключаются и не оказывают влияния на окончательный результат. [23]
При наличии подобных модификаций сопоставляются разные алгоритмы измерений с оптимальными управляемыми характеристиками. [24]
В технической литературе и нормативной документации часто встречается термин алгоритм измерения, под которым следует понимать точное предписание о порядке выполнения операций, обеспечивающих измерение искомого значения физической величины. [25]
Результаты метрологической экспертизы показывают, что документы с изложением МВИ часто содержат алгоритм измерений показателей качества единичного образца испытуемого объекта без оценки погрешности измерений и описания процедуры отбора проб из партии или ссылки на соответствующий НТД. [26]
Основной вывод приведенного анализа заключается в том, что нет оснований добиваться большой точности реализации алгоритма измерения путем уменьшения приборной погрешности, если квазипогрешность согласования соизмерима или превышает ее. Сделанный вывод подчеркивает значение априорной информации о модели исследуемых случайных величин для выбора и построения приборной схемы для их оптимального измерения и анализа. [27]
Проведенные исследования могут быть применены при синтезе алгоритмов повышения точности измерения одной величины и при синтезе алгоритмов измерения нескольких величин с использованием многофункциональных датчиков. [28]
При измерении нулевые метки мер сдвигаются на измеряемую величину X, а затем согласно приведенному ниже алгоритму измерения определяют числовое значение результата измерения Nх, по номеру ближайшей из совпавших меток. [29]
Рассмотрим общепринятые в метрологии определения понятиям измерения, средства, принципы, методы и объекты измерения, алгоритмы измерения и шкалы измерений и ряду других характеристик. [30]
Страницы: 1 2 3 4