Cтраница 3
Показано, что ошибки полуколичественного спектрографического анализа подчиняются распределению Пуассона. [31]
Кроме того, в спектрографическом анализе определения сигнала и шума не являются независимыми друг от друга, так как они основаны на измерении в каждом спектре соотношения интенсивностей линии и фона. [32]
Вышеизложенное объясняет причину удовлетворительных результатов спектрографического анализа при сравнительно небольшом, а главное, малоотличающемся фоне на измеренных линиях эталонов и проб. Резкое различие фона на спектрограммах приводит к значительным погрешностям. [33]
В табл. 11 представлены результаты типичного спектрографического анализа графитового блока. [34]
В работе [291] описана методика спектрографического анализа манганинового провода малого сечения, однако точность определения главного компонента - марганца - по этой методике недостаточна [ ошибка достигает 10 % ( отн. [35]
Влияние фона на спектрометрический ( а и спектрографический ( б. [36] |
Так же как и в спектрографическом анализе, аналитическая кривая строится с помощью образцов известного состава. [37]
Было показано, что в спектрографическом анализе линии х и г должны располагаться близко друг к другу по двум причинам. С одной стороны, при большом расстоянии между линиями возрастают фотографические погрешности, а с другой - параметры характеристической кривой ( или кривой преобразованных почернений) быстро изменяются вне области длин волн 2500 - 3100 А. Последнее существенно усложняет методику анализа. В противоположность этому в случае измерения интенсивности линий с помощью фотоумножителей точность измерений не зависит от расстояния между линиями ( разд. Поскольку между фототоком и интенсивностью света существует простое линейное соотношение, зависимость чувствительности фотоумножителей от длины волны в относительно широких пределах не играет роли. Поэтому различие в длинах волн линий аналитических пар может быть значительным. [38]
Рассматривается вопрос о возможности повышения точности спектрографического анализа путем введения весовых коэффициентов при вычислении разности логарифмов интенсивностеи аналитических линий в тех случаях, когда коэффициенты регрессии на диаграммах рассеяния ( см. [ 146) не равны единице. [39]
Начиная с 30 - х годов метод спектрографического анализа широко и успешно используется в геологической службе и для контроля технологических процессов и продукции металлургического производства. [40]
Пусть, например, необходимо выбрать методику спектрографического анализа некоторого продукта на содержание примесей элементов-металлов, обеспечивающую возможность количественно определять содержание каждой из этих примесей, в интеовале от сотых до десятых долей процента. Здесь указан лишь один ограничивающий параметр - интервал содержания. Решение подобных задач состоит в том, что, используя доступные источники информации, выбирают потенциально перспективные методики ( или их варианты), а при отсутствии данных совершенствуют некоторый исходный вариант методики или разрабатывают ее вновь. В принципе, каждая из таких методик после освоения и проверки пригодна для применения. [41]
На большом материале показано, что ошибки спектрографического анализа почв и золы растений подчиняются нормальному распределению, если результаты анализа выражать в логарифмах интенсивности линий. [42]
Описанные в настоящем пособии практические работы по эмиссионному спектрографическому анализу могут быть выполнены с помощью наиболее распространенных типов спектрографов: ИСП-30, ИСП-28 или ИСП-22. Эти спектрографы относятся к оптическим приборам средней разрешающей способности. [43]
Состав металлических примесей в исследованном веществе, найденный спектрографическим анализом, был следующий ( вес. Повторный анализ, проведенный после опытов, обнаружил содержание молибдена в количестве 5 - 10 - 2 вес. Особое внимание было уделено вопросу очистки исследуемой окиси бора от воды. Сущность использованного метода очистки сводится к следующему. Тигель с порошкообразной окисью бора, содержавшей в исходном состоянии, согласно паспортным данным, 1 5 вес. [44]
Источники излучения с полым катодом, применимые в спектрографическом анализе галогенов и газов. [45]