Кристалл-анализатор
Cтраница 2
В зависимости от этого интервала находится и выбор кристалл-анализатора. [16]
Гониометрическое устройство позволяет с высокой точностью выполнить поворот кристалл-анализатора и согласованно с этим - - перемещение детектора с вдвое большей угловой скоростью. Такое сканирование по спектру особенно удобно для осуществления качественного анализа. [17]
Показаны щель, закрепленный кристалл, положение образца, кристалл-анализатор, счетч IK Гейгера и путь лучл. [18]
Для этого не требуется ни гониометрическое устройство, ни кристалл-анализатор; поэтому диспергирующие рентгеновские спектрометры особенно легко поддаются автоматизации. [20]
 |
Схема взаимного расположения монохроматора и кристалл-анализатора при экваториальной fa и азимутальной ( б установках. [21] |
Так как излучение, отражаемое под углом 90 от кристалл-анализатора, плоскополяризовано, то, очевидно, А и / т в этом случае будут пропорциональны составляющим интенсивно-стей монохроматического излучения соответственно с перпендикулярной и параллельной поляризацией относительно плоскости рассеяния монохроматора. Следовательно, величина 1-у COS2 2f M определяет степень поляризации отраженного от монохроматора излучения, если падающий пучок неполяризованный. [22]
Для повышения эффективности анализа и регистрации рентгеновских лучей с помощью кристалл-анализатора очень важно выполнение условий фокусировки: источник рентгеновских лучей ( испытуемый образец), кристалл-анализатор и детектор должны располагаться на одной окружности. Однако обычная работа РЭМ - движение луча по поверхности объекта не является оптимальной, так как в крайних положениях луча на поверхности объекта ( при малых увеличениях) условия фокусировки существенно нарушаются, вследствие чего интенсивность изучения уже не будет однозначно связана с количеством анализируемого элемента. Поэтому при анализе макрообъсктов оказывается целесообразным использование механического перемещения образца относительно неподвижного зонда. [23]
Режим работы: напряжение 5 кв, ток 35 ма, кристалл-анализатор из кварца, атмосфера гелия, для регистрации излучения служит проточный пропорциональный счетчик. Брикет помещают в держатель образцов, который вращается со скоростью 25 об / мин. Благодаря вращению образца уменьшается влияние поверхностных неодно-родностей. [24]
При измерении 1Т ( экваториальная установка) плоскости рассеяния для монохроматора и кристалл-анализатора должны совпадать между собой, а при измерении Iv ( азимутальная установка) они должны быть взаимно перпендикулярны. Эти условия предъявляют определенные требования к аппаратуре. [25]
При флуоресцентном возбуждении спектра достигается локальность порядка 5 мкм2 - при работе с кристалл-анализатором и 0 1 мкм2 - при использовании энергетической дисперсии. [26]
Использование амплитудной селекции сигналов применяют не только в амплитудных анализаторах, но и в приборах с кристалл-анализатором. [27]
Для обеих длин волн условие отражения выполняется при одной и той же величине угла скольжения 0, и кристалл-анализатор не может разрешить линии этих длин волн. Однако ввиду того, что 11г t / 2, эти импульсы хорошо разрешаются последующим включением амплитудного дискриминатора. [28]
Для обеих длин волн условие отражения выполняется при одной и той же величине угла скольжения 8, и кристалл-анализатор не может разрешить линии этих длин волн. Однако ввиду того, что иг U2, эти импульсы хорошо разрешаются последующим включением амплитудного дискриминатора. [29]
Для обеих длин волн условие отражения выполняется при одной и той же величине угла скольжения 6, и кристалл-анализатор не может разрешить линии этих длин волн. Однако ввиду того, что Ui Uz, эти импульсы хорошо разрешаются последующим включением амплитудного дискриминатора. [30]
Страницы: 1 2 3 4