Кристалл-анализатор
Cтраница 4
 |
Дифракция рентгеновских лучей на последовательных атомных слоях поверхности кристалла-анализатора. [46] |
На рис. 11.32 представлена схема дифракции рентгеновских лучей на последовательных слоях атомов поверхности кристалла-анализатора. Таким образом, кристалл-анализатор работает как дифракционная решетка. В зависимости от того, какой элемент необходимо определить и соответственно какова длина волны аналитической линии, выбирают кристалл-анализатор с подходящим расстоянием между кристаллографическими плоскостями. [47]
Остается согласовать их с практической интенсивностью аналитических линий. Рассмотрим это на следующем примере. Пусть в качестве кристалл-анализатора используется слюда. [48]
На этом устройстве, называемом гониометром, укреплен детектор излучения, связанный с соответствующими электронными устройствами. Существуют различные типы приборов. В наиболее общепринятом типе используется плоский кристалл-анализатор, и поток излучения коллимируется рядом параллельных пластин. В других моделях используется кристалл с искривленной поверхностью, фокусирующий отражаемое им излучение. [49]
А, требуется вакуумная или гелиевая среда. Для регистрации различных длин волн учитывают особенности фокусировки кристалл-анализатора. Всеволновые спектрометры, например, должны иметь и кристалл-анализаторы, и детекторы, легко сменяемые в процессе самого анализа. Ввиду особенностей конструкции ( отдельные и легкосменные запасные спектрометрические каналы) наиболее оптимальным для промышленных целей всеволновым прибором следует считать квантометр. [50]
Такой малый угол конструктивно не позволит использовать весь пучок первичных лучей и поэтому в значительной степени проигрывают в интенсивности. Для этого достаточно перейти на работу с каким-нибудь другим кристалл-анализатором, у которого межплоскостное расстояние меньше, или использовать в работе линию не в I порядке отражения, а в более высоком. [51]
В приборах этого типа измеряется интенсивность рентгеновского излучения, прошедшего через анализируемую пробу, вернее уменьшение интенсивности излучения, связанное с поглощением рентгеновского излучения. Конструкции абсорбционных приборов различаются взаимным расположением анализируемого образца и кристалл-анализатора. В одних приборах после рентгеновской трубки помещен кристалл-анализатор и через анализируемую пробу проходит монохроматическое излучение. В приборах другой конструкции анализируемая проба помещается между рентгеновской трубкой и кристалл-анализатором и таким образом в спектр разлагается излучение, прошедшее через анализируемую пробу. [52]
Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. [53]
Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. В рентгеновской же спектроскопии имеет место обратное. [54]
Поэтому интересно сравнить амплитудную селекцию с брэггавским отражением ( см. 1 14), поскольку она позволяет сортировать рентгеновские лучи по длинам волн. Следует также выяснить, может ли метод амплитудной селекции при необходимости заменить кристалл-анализатор, а также можно ли использовать их совместно. Такие методы применяются в основном в рентгеновской эмиссионной спектроскопии ( см. гл. [55]
Страницы: 1 2 3 4