Кристалл-анализатор

Cтраница 3

Для повышения эффективности анализа и регистрации рентгеновских лучей с помощью кристалл-анализатора очень важно выполнение условий фокусировки: источник рентгеновских лучей ( испытуемый образец), кристалл-анализатор и детектор должны располагаться на одной окружности. Однако обычная работа РЭМ - движение луча по поверхности объекта не является оптимальной, так как в крайних положениях луча на поверхности объекта ( при малых увеличениях) условия фокусировки существенно нарушаются, вследствие чего интенсивность изучения уже не будет однозначно связана с количеством анализируемого элемента. Поэтому при анализе макрообъсктов оказывается целесообразным использование механического перемещения образца относительно неподвижного зонда. [31]

Наиболее очевидным методом определения значения Y cos2 2ftM является метод, заключающийся в измерении интегральной интенсивности отражения при экваториальной ( 7Т) и азимутальной ( / v) установках исследуемого кристалл-анализатора. [32]

Максимальный угол 29, измеряемый гониометром, ограничен. Поэтому кристалл-анализатор следует подбирать в зависимости от длины волны анализируемого излучения так, чтобы удовлетворялось уравнение Брэгга - Вульфа. Так, обычно измеряемый прибором угол 0 изменяется от 5 до 75; тогда минимальная длина волны, которая может быть зарегистрирована, составляет Q l5d, а максимальная - 1 9 ( И. Таким образом, для того чтобы анализировать излучение, длина волны которого изменяется от 0 02 до 1 нм, необходимо использовать несколько различных кристаллов. [33]

Устанавливают пластинку так, чтобы ее центр был одинаково удален от входной щели и детектора. Освещая через входную щель небольшой лампочкой накаливания кристалл-анализатор, изгибают пластинку до тех пор, пока на экране из полоски бумаги, расположенной перед детектором, не получится четкое изображение щели. Подобная юстировка прибора на определенную линию ( аналитический канал фиксированного типа) считается оконченной после повторения цикла оптической и рентгеновской юстировки. [34]

А, требуется вакуумная или гелиевая среда. Для регистрации различных длин волн учитывают особенности фокусировки кристалл-анализатора. Всеволновые спектрометры, например, должны иметь и кристалл-анализаторы, и детекторы, легко сменяемые в процессе самого анализа. Ввиду особенностей конструкции ( отдельные и легкосменные запасные спектрометрические каналы) наиболее оптимальным для промышленных целей всеволновым прибором следует считать квантометр. [35]

Метод не требует разложения образца. Используют спектрометр XRD-6, трубку с вольфрамовым анодом, кристалл-анализатор LiF и амплитудный анализатор импульсов. [36]

Описываются методы экспериментального определения поляризационного фактора рассеяния монохроматического рентгеновского излучения в случае установки кристалл-моно-хроматора на прямом или дифрагированном пучках. Методы основаны на измерении: 1) интегральной интенсивности отражения от кристалл-анализатора при экваториальной и азимутальной съемках; 2) интенсивности аномально прошедшего пучка через совершенный кристалл ( эффект Боррмана) в двух взаимно перпендикулярных положениях; 3) интегральных интенсивностей рефлексов 111 и 333 от совершенного кристалла германия. Последний метод в экспериментальном отношении наиболее простой. [37]

Схема установки для рентгенофлуоресцентного анализа. [38]

Если угловая скорость вращения счетчика в два раза больше скорости вращения кристалл-анализатора, то это требование выполняется при любом положении кристалла. [39]

Испускаемое образцом вторичное характеристическое излучение рентгеновской частоты проходит через щель коллиматора на кристалл-анализатор, исполняющий роль диффракциоиной решетки для определения длины волны излучения, и попадает на регистратор для определения интенсивности отдельных линий и непрерывной записи рентгеновского спектра. Так работают приборы электронно-спектрального химического анализа ( ЭСХА), рентгено-спектрального химического анализа ( РСХА), электронно-зондовые рентгеновские микроана-и др. В последнее время их объединяют с оптическими и микроскопами для целенаправленного выбора в неоднородных средах. [40]

Пусть на прямоугольную пластинку ( рис. 87) падает параллельный пучок лучей с длиной волны К, интенсивностью на поверхности пластинки 1 и под углом р к ней. Флуоресцентное излучение пусть выходит под углом о) и через щель Щ попадает к кристалл-анализатору. [41]

Так как линия Ка железа имеет значительно меньший потенциал возбуждения, чем соответствующие линии серебра или циркония, то в данном случае невозможно возбудить линии Ка подкладки, не возбуждая при этом интенсивной линии Ка железа. Отсюда ясно, что применение линий Ка не позволяет использовать здесь ме тод I, тогда как метод III может дать хороший результат, поскольку кристалл-анализатор устраняет наложение линии Ка железа. [42]

Наиболее универсальное значение имеют регистрация вторичных электронов и регистрация отраженных ( или рассеянных обратно) электронов. Кроме этих обязательных методов анализа современные модели РЭМ имеют ( по крайней мере в виде дополнительной приставки) устройства для анализа рентгеновского характеристического излучения с помощью кристалл-анализаторов или бескристальным ( энергетическим дисперсионным) методом. [43]

Схемы фокусировки спектральных линий по методу Иоганна ( кристалл 4 в положении а и по методу Иоганссона ( кристалл 4 в положении б. [44]

Во всех предыдущих методах кристалл работает на отражение. Сходящийся пучок рентгеновских лучей с длиной волны Ль для которых углы падения и отражения по закону Вульфа - Брегга равны фь падает на изогнутый по радиусу R кристалл-анализатор с его выпуклой стороны и отражается от атомных плоскостей, расположенных веерообразно под прямым углом к поверхности кристалла. [45]

Страницы: 1 2 3 4